Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
Catalogo dei prodotti della ricerca
We have studied biaxial, birefringent, one-dimensional multilayer structures and found a wavelength region where the phase of one specific polarization component of the transmitted field increases with wavelength, giving rise to unusual polarization dependent dispersive effects of the input beam. We have analysed the delay obtained with birefringent one-dimensional multilayer structures and the effect of the dispersion in the materials to generate anomalous phase in the spectrum.
Anomalous phase in one-dimensional multilayer periodical structures with birefringent materials / Antonio, Mandatori; Sibilia, Concetta; Mario, Bertolotti; S., Zhukovsky; Joseph W., Haus; Michael, Scalora. - (2004), pp. 24-32. ((Intervento presentato al convegno Conference on Advances in Thin Film Coatings for Optical Applications tenutosi a Denver, CO nel AUG 04-05, 2004. [10.1117/12.559809].
Anomalous phase in one-dimensional multilayer periodical structures with birefringent materials
Antonio Mandatori;SIBILIA, Concetta;Mario Bertolotti;S. Zhukovsky;Joseph W. Haus;Michael Scalora
2004
Abstract
We have studied biaxial, birefringent, one-dimensional multilayer structures and found a wavelength region where the phase of one specific polarization component of the transmitted field increases with wavelength, giving rise to unusual polarization dependent dispersive effects of the input beam. We have analysed the delay obtained with birefringent one-dimensional multilayer structures and the effect of the dispersion in the materials to generate anomalous phase in the spectrum.
PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
9780819454652
NEGATIVE REFRACTION; PHOTONIC CRYSTALS;
02 Pubblicazione su volume::02a Capitolo o Articolo
Anomalous phase in one-dimensional multilayer periodical structures with birefringent materials / Antonio, Mandatori; Sibilia, Concetta; Mario, Bertolotti; S., Zhukovsky; Joseph W., Haus; Michael, Scalora. - (2004), pp. 24-32. ((Intervento presentato al convegno Conference on Advances in Thin Film Coatings for Optical Applications tenutosi a Denver, CO nel AUG 04-05, 2004. [10.1117/12.559809].
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/17508
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
Citazioni
ND
0
0
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
