RUSSO, Felice
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Dark current spectroscopy of transition metals in CMOS image sensors
2017 Russo, Felice; Nardone, Giancarlo; Polignano, Maria Luisa; D'Ercole, Angelo; Pennella, Fabrizio; Felice, Massimo Di; Monte, Andrea Del; Matarazzo, Antonio; Moccia, Giuseppe; Polsinelli, Gianpaolo; D'Angelo, Antonio; Liverani, Massimo; Irrera, Fernanda
Performance and reliability degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated configuration
2020 Vici, Andrea; Russo, Felice; Lovisi, Nicola; Marchioni, Aldo; Casella, Antonio; Irrera, Fernanda
Through-silicon-trench in back-side-illuminated CMOS image sensors for the improvement of gate oxide long term performance
2019 Vici, Andrea; Russo, F.; Lovisi, N.; Latessa, L.; Marchioni, Andrea; Casella, ANNA RITA; Irrera, F.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Dark current spectroscopy of transition metals in CMOS image sensors | 2017 | Russo, Felice; Nardone, Giancarlo; Polignano, Maria Luisa; D'Ercole, Angelo; Pennella, Fabrizio; Felice, Massimo Di; Monte, Andrea Del; Matarazzo, Antonio; Moccia, Giuseppe; Polsinelli, Gianpaolo; D'Angelo, Antonio; Liverani, Massimo; Irrera, Fernanda | |
| Performance and reliability degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated configuration | 2020 | Vici, Andrea; Russo, Felice; Lovisi, Nicola; Marchioni, Aldo; Casella, Antonio; Irrera, Fernanda | |
| Through-silicon-trench in back-side-illuminated CMOS image sensors for the improvement of gate oxide long term performance | 2019 | Vici, Andrea; Russo, F.; Lovisi, N.; Latessa, L.; Marchioni, Andrea; Casella, ANNA RITA; Irrera, F. |