Nonlinear properties of chalcogenide glass As2S3 thin films have been measured with a self-diffraction (Z-Scan) technique. Photostructural changes and dynamical effects have been measured.

Chalcogenide glass thin films: Z-Scan measurements of refractive index changes / Michelotti, Francesco; Bertolotti, Mario; V., Chumash; A., Andriesh. - STAMPA. - 1773:(1992), pp. 423-432. (Intervento presentato al convegno Photonics for Computers, Neural Networks, and Memories) [10.1117/12.141546].

Chalcogenide glass thin films: Z-Scan measurements of refractive index changes

MICHELOTTI, Francesco;BERTOLOTTI, Mario;
1992

Abstract

Nonlinear properties of chalcogenide glass As2S3 thin films have been measured with a self-diffraction (Z-Scan) technique. Photostructural changes and dynamical effects have been measured.
1992
Photonics for Computers, Neural Networks, and Memories
04 Pubblicazione in atti di convegno::04b Atto di convegno in volume
Chalcogenide glass thin films: Z-Scan measurements of refractive index changes / Michelotti, Francesco; Bertolotti, Mario; V., Chumash; A., Andriesh. - STAMPA. - 1773:(1992), pp. 423-432. (Intervento presentato al convegno Photonics for Computers, Neural Networks, and Memories) [10.1117/12.141546].
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