Investigation and modeling of stressed thermal oxides / Caputo, Domenico; Irrera, Fernanda. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42:(2002), pp. 327-333. [10.1016/S0026-2714(01)00257-8]

Investigation and modeling of stressed thermal oxides

CAPUTO, Domenico;IRRERA, Fernanda
2002

2002
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Investigation and modeling of stressed thermal oxides / Caputo, Domenico; Irrera, Fernanda. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42:(2002), pp. 327-333. [10.1016/S0026-2714(01)00257-8]
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