Two techniques for broadband measurements of the surface impedance of high critical temperature superconducting thin films / N., Tosoratti; Fastampa, Renato; Giura, Maurizio; V., Lenzi; Sarti, Stefano; E., Silva. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B. - ISSN 0217-9792. - 14:(2000), pp. 2926-2931.

Two techniques for broadband measurements of the surface impedance of high critical temperature superconducting thin films

FASTAMPA, Renato;GIURA, Maurizio;SARTI, Stefano;
2000

2000
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Two techniques for broadband measurements of the surface impedance of high critical temperature superconducting thin films / N., Tosoratti; Fastampa, Renato; Giura, Maurizio; V., Lenzi; Sarti, Stefano; E., Silva. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B. - ISSN 0217-9792. - 14:(2000), pp. 2926-2931.
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