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Production and Testing of Optical Components and Systems

Analysis of defects in multilayers through photothermal deflection technique / Bertolotti, Mario; LI VOTI, Roberto; Sibilia, Concetta; Leahu, Grigore. - 2775:(1996), pp. 370-379.

Analysis of defects in multilayers through photothermal deflection technique

BERTOLOTTI, Mario;LI VOTI, Roberto;SIBILIA, Concetta;LEAHU, GRIGORE
1996

Abstract

Production and Testing of Optical Components and Systems
1996
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Analysis of defects in multilayers through photothermal deflection technique / Bertolotti, Mario; LI VOTI, Roberto; Sibilia, Concetta; Leahu, Grigore. - 2775:(1996), pp. 370-379.
01a Articolo in rivista
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