Oblique Grain Boundaries: Analysis of Light and Electron Beam Induced Current Profiles in Silicon / A., Mittiga; Capizzi, Mario; Coluzza, Carlo; Frova, Andrea; Parisi, Valerio; D., Cavalcoli; L., Moro; M., Prudenziati. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 63:(1988), pp. 4748-4750. [10.1063/1.340135]
Oblique Grain Boundaries: Analysis of Light and Electron Beam Induced Current Profiles in Silicon
CAPIZZI, Mario;COLUZZA, Carlo;FROVA, Andrea;PARISI, Valerio;
1988
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.