Characterisation of the Nonlinear Coefficients of AlGaN/GaN Crystalline Thin Films Via SHG Measurements / Passeri, Daniele; Larciprete, Maria Cristina; Belardini, Alessandro; S., Paoloni; A., Passaseo; Sibilia, Concetta; Michelotti, Francesco. - STAMPA. - 709:(2004), pp. 437-439.

Characterisation of the Nonlinear Coefficients of AlGaN/GaN Crystalline Thin Films Via SHG Measurements

PASSERI, Daniele;LARCIPRETE, Maria Cristina;BELARDINI, ALESSANDRO;SIBILIA, Concetta;MICHELOTTI, Francesco
2004

2004
04 Pubblicazione in atti di convegno::04b Atto di convegno in volume
Characterisation of the Nonlinear Coefficients of AlGaN/GaN Crystalline Thin Films Via SHG Measurements / Passeri, Daniele; Larciprete, Maria Cristina; Belardini, Alessandro; S., Paoloni; A., Passaseo; Sibilia, Concetta; Michelotti, Francesco. - STAMPA. - 709:(2004), pp. 437-439.
File allegati a questo prodotto
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11573/165320
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact